硬盤軟故障的檢查辦法

由于計算機(jī)硬盤存儲容量大，讀寫速度快，且安裝在一個密閉腔體內(nèi)，工作環(huán)境清潔、性能較穩(wěn)定、使用方便，因此，在微機(jī)中得到廣泛的應(yīng)用。但如果對硬盤使用不當(dāng)或感染病毒后，容易引發(fā)故障。硬盤故障分為硬故障和軟故障兩大類，其中軟故障出現(xiàn)較頻繁。故障現(xiàn)象大都表現(xiàn)為硬盤不能自啟動。當(dāng)硬盤出現(xiàn)軟故障時，采取行之有效的應(yīng)急處理很重要，下面介紹的“三檢”只是相對于最常見的故障情況而進(jìn)行的檢查、
處理步驟。
　　●一、檢查CMOS設(shè)置及處理方法：
　　CMOS系統(tǒng)設(shè)置錯誤所引起的硬盤軟故障，現(xiàn)象表現(xiàn)不一。有的開機(jī)后屏幕無顯示，有的僅顯示一個死光標(biāo)，有的顯示“Non-System Disk Error”(非系統(tǒng)盤或盤出錯)等提示。特別是在從A盤轉(zhuǎn)入C盤時，屏幕出現(xiàn)“Invaild Driver Specification”(無效驅(qū)動器)，令用戶誤以為硬盤“0”磁道壞或硬盤系統(tǒng)破壞等，從而采用低級格式化、重建Dos分區(qū)、重新拷入DOS系統(tǒng)和高級格式化等方法。雖然對硬盤初始化可以排除軟故障，但硬盤數(shù)據(jù)卻被破壞。所以，由于CMOS設(shè)置錯誤引發(fā)的軟故障不用重新設(shè)置CMOS的辦法去解決，必然有所損失。而且因CMOS設(shè)置錯誤引起的軟故障較普遍，我們在檢查軟故障時最好第一步從檢查CMOS系統(tǒng)設(shè)置入手。
　　檢查和處理方法：
　　首先檢查后備電池是否失效，如失效則更換電池，再進(jìn)入CMOS設(shè)置。對于高檔微機(jī)，可以開機(jī)后按Del、Esc鍵或Ctrl-Backspace、 Ctrl-Alt-Esc等組合鍵進(jìn)入CMOS設(shè)置狀態(tài)。對于低檔機(jī)，只能從A驅(qū)動器引導(dǎo)SETUP軟件進(jìn)入CMOS設(shè)置狀態(tài)。CMOS檢查中，重點(diǎn)檢查 CMOS系統(tǒng)設(shè)置中硬盤參數(shù)是否正確，特別是檢查硬盤類型號(TYPE)與硬盤驅(qū)動器廠家提供的參數(shù)是否相一致。如果發(fā)現(xiàn)錯誤，將參數(shù)更改為以前備份好的正確參數(shù)，保存后退出CMOS設(shè)置再重新用硬盤引導(dǎo)系統(tǒng)。萬一找不到備份參數(shù)，對于有些高檔機(jī)器，可以采用CMOS設(shè)置中的功能選項“HDD AUTO DETECTION”(硬盤自動檢測)來找到正確的硬盤參數(shù)。如果CMOS設(shè)置中無此選項，可以打開機(jī)器，硬盤表面一般都有一個標(biāo)簽對硬盤參數(shù)進(jìn)行介紹。即使沒有介紹，至少標(biāo)明此類硬盤的名稱，再根據(jù)硬盤名稱查閱各類硬盤參數(shù)資料，就可以查到正確配置參數(shù)。另外，借助于DM等應(yīng)用軟件也可以檢測到硬盤的參數(shù)(條件是A驅(qū)必須能自舉)。
　　●二、檢查病毒及處理方法：
　　硬盤出現(xiàn)軟故障時，在啟動后屏幕顯示“Invaild Partition Table”(無效分區(qū)表)，這時應(yīng)該首先想到可能是病毒原因所造成，而且通常是致命性病毒將DOS分區(qū)或DOS引導(dǎo)記錄破壞。
　　病毒的目的就在于破壞系統(tǒng)，尤其是操作系統(tǒng)型病毒，它以病毒區(qū)取代正常操作系統(tǒng)的引導(dǎo)部分。在系統(tǒng)啟動時，病毒進(jìn)入內(nèi)存，一旦這類病毒直接或間接得以運(yùn)行，必將破壞硬盤系統(tǒng)。硬盤出現(xiàn)了軟故障，必須查找這方面的原因。用清毒盤檢測硬盤，發(fā)現(xiàn)病毒應(yīng)及時清除。重新用C盤引導(dǎo)系統(tǒng)，如不成功，可重新向C盤傳送系統(tǒng)。如還不能正常啟動，將備份DOS分區(qū)表拷入硬盤，如再不行，只能采取硬盤初始化。有些病毒用手中的清毒盤未必能檢查出來，我們可以借助于 DEBUG、PCTOOLS等工具進(jìn)行檢測和清除。
　　●三、檢查轉(zhuǎn)盤情況及處理方法：
　　1.A驅(qū)正常啟動后轉(zhuǎn)入C盤時失效，屏幕出現(xiàn)“Invaild Drive Specification”。
　　從提示看，系統(tǒng)不承認(rèn)硬盤的存在。這時如果CMOS設(shè)置是正確的，通常認(rèn)為是硬盤“0”磁道壞使磁盤中“0”柱面“1”扇區(qū)中分區(qū)表損壞。
　　處理方法：用A盤引導(dǎo)系統(tǒng)后，重建DOS分區(qū)，將引導(dǎo)分區(qū)改在1柱面，對磁盤進(jìn)行高級格式化。
　　2.C驅(qū)自舉失敗，A盤啟動后轉(zhuǎn)入C盤成功。
　　筆者發(fā)現(xiàn)，有時CMOS中硬盤參數(shù)不正確，雖A盤啟動可正常轉(zhuǎn)入C盤，但C盤不能啟動，讀寫不正常，有時只能列目錄。如果CMOS參數(shù)正確，多數(shù)原因在于C盤DOS系統(tǒng)文件錯誤。故障現(xiàn)象為啟動C盤后，屏幕會出現(xiàn)“Error Loading Operating System”(錯誤安裝DOS)或“Missing Operating System”(DOS丟失，系統(tǒng)破壞)等提示。
　　處理方法：用干凈系統(tǒng)盤(DOS版本與C盤一致)從A驅(qū)啟動，刪除C盤上的DOS系統(tǒng)文件，利用SYS命令傳送系統(tǒng)到C盤。
　　通過“三檢”之后如仍不能排除軟故障，在確認(rèn)無硬故障的情況下，我們只能采取對硬盤初始化的辦法排除軟故障。所謂硬盤初始化，指的是對硬盤低級格式化、分區(qū)、高級格式化。低級格式化可采取CMOS設(shè)置狀態(tài)中的功能選項進(jìn)行操作，也可以采用DM、DIAGS、SETUP等軟件來完成；分區(qū)、高級格式化均可采取DOS命令完成(分區(qū)：A：\FDISK←；高級格式化：A：\FORMAT C：/S←)。
　　對故障進(jìn)行檢查、處理固然重要，但防范措施也很重要。如定期檢測磁盤，盡量不使用外來盤，即使要使用，運(yùn)行前先用病毒清洗盤進(jìn)行檢測，以預(yù)防病毒；定期檢查、更換后備電池，正確配置 CMOS參數(shù)；備份CMOS參數(shù)、DOS分區(qū)表和DOS引導(dǎo)記錄等。這些工作平時做好了，可以有效地預(yù)防硬盤軟故障的發(fā)生。即使出現(xiàn)了故障，也能迅速加以排除，保護(hù)好硬盤數(shù)據(jù)